Halbleitertest
Eine stetig steigende Integrationsdichte und Komplexität von Elektronikkomponenten verlangt modulare und flexible Prüfsysteme, die sich durch kurze Prüfzeiten, hohe Kanalanzahl und Eignung für unterschiedlichste I/O-Typen auszeichnen. Dabei geht es nicht nur um die Einhaltung der Qualitätsanforderungen von der Entwicklung bis hin zum Produktionstest, sondern auch um die effiziente Automatisierung der Arbeitsschritte mit industriellen Mess- und Automatisierungsplattformen.
Kunden und Partner stellen Ihnen in diesem Track Systeme und innovative Lösungen für den Test von Halbleiterprodukten vor.
Donnerstag, 13.10.2011
| 11:00 – 11:30 | Semiconductor Test Applications and Trends Heath Noxon, National Instruments Corp. |
| 11:30 – 12:00 | Einsatz von FPGA-Modulen zur parallelen Vermessung von mikromechanischen Inertialsensoren auf Waferebene Dr. Oliver Schwarzelbach, Fraunhofer-Institut für Siliziumtechnologie | Details |
| 12:00 – 12:30 | Fehler gezielt zufällig finden? Validierung von Halbleitern mit zufallsbedingten Testmethoden unter Verwendung des
KT-7500 Mixed Signal Testers Michael Konrad, Konrad GmbH |
| 12:30 – 13:00 | LabVIEW, TestStand und PXI - Die ideale Komibination zur Reduzierung des Vailidierungsaufwands Heribert Erhart, Texas Instruments Deutschland GmbH | Details |
