Technisches Datenmanagement

Kürzere Produktzyklen, hoher Qualitätsanspruch und innovatives Design gehen während der Produktentwicklung Hand in Hand mit umfangreichen Tests. Einen großen Beitrag dazu leistet bereits leistungsfähige Hard- und Software, mit der sich Tests schnell und kostengünstig durchführen lassen. Die Messauswertungen müssen damit Schritt halten können, denn eine zeitnahe Bereitstellung der Ergebnisse kann schließlich nur durch entsprechende Tools erreicht werden.

Dieser Track stellt neue Funktionen und Konzepte zum technischen Datenmanagement vor, um mit den bedeutenden Bereichen der Datenorganisation, Auswertung und Berichterstellung Schritt halten zu können.


Donnerstag, 13.10.2011

11:00 – 11:30 Die Qualität der Daten – der Schlüssel für ein effizientes Datenmanagement
Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

11:30 – 12:00
openMDM: DIAdem als Teil einer offenen Softwareplattform für Versuchs- und Messdatenmanagement
Dr. Hans-Jörg Kremer, Peak-Solution GmbH | Details

12:00 – 13:00
DIAdem 2011: Vorstellung der neuen Version und Möglichkeit zum direkten Erfahrungsaustausch mit der DIAdem-Entwicklung
Walter Rick, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG

13:00 – 14:30 Mittagsbuffet / Besuch der Ausstellung

14:30 – 15:00
Data Management for MS Excel Users
Derrick Snyder, National Instruments Corp.

15:00 – 15:30
Heizungsoptimierung mit DIAdem
Stefan Müller, ecodac Messtechnik | Details

15:30 – 16:00 Kaffeepause/Besuch der Ausstellung

16:00 – 16:30 Messungen automatisch verketten, validieren und korrigieren – kein Problem mit DIAdem
Karl Finkl, a-solution GmbH

16:30 – 17:00 Signalmustererkennung in großen Datenbeständen
Andreas Haub, National Instruments Engineering GmbH & Co. KG


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Wir stellen vor:

Andreas Haub ist verantwortlich für die Entwicklung der TDM-Produkte wie DIAdem und DataFinder. Er hat mit dazu beigetragen, diese Produktlinie als Standardwerkzeug für Firmen weltweit zu positionieren.